กล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม - กล้องจุลทรรศน์แบบตั้งตรง (Upright Microscopes)
- ECLIPSE LV150NA LED และ LV150N LED
- ECLIPSE LV100NDA LED และ LV100ND LED
ECLIPSE LV150NA LED และ LV150N LED
กล้องจุลทรรศน์แบบตั้งตรงสำหรับการสังเกตด้วยแสงสะท้อน (Episcopic) ในหลากหลายรูปแบบ เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์และวัสดุ
ใช้งานสะดวกยิ่งขึ้น และบำรุงรักษาได้ง่ายกว่าเดิม
ด้วยการออกแบบแบบโมดูลาร์และแหล่งกำเนิดแสง LED ที่ให้ค่าความถูกต้องของสีสูง (High Colour-Rendering) กล้องจุลทรรศน์ LV150NA LED และ LV150N LED สามารถรองรับเทคนิคการสร้างคอนทราสต์เชิงแสงได้หลายรูปแบบบนตัวกล้องเดียว ตัวอย่างการใช้งาน ได้แก่ การตรวจสอบแผ่นรองเซมิคอนดักเตอร์และแพ็กเกจอุปกรณ์ จอแสดงผลแบบแบน (FPD) ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์ และวัสดุนวัตกรรม โดยใช้เทคนิคคอนทราสต์แบบ Episcopic เฉพาะทาง
จุดเด่น
ECLIPSE LV150NA LED และ LV150N LED
รองรับวิธีการสังเกตที่หลากหลาย
สามารถใช้งานโหมด Brightfield, Darkfield, Polarising (POL), Differential Interference Contrast (DIC), Epi-fluorescence และ Two-beam Interferometry ได้ด้วย LV150NA LED และ LV150N LED
การสื่อสารดิจิทัลอัจฉริยะ
สามารถตรวจจับข้อมูลของเลนส์ใกล้วัตถุ ความเข้มแสง รูรับแสง และคอนทราสต์แบบ Epi ได้ผ่านตัวควบคุม LV-ECON และซอฟต์แวร์ NIS-Elements ส่วน LV150N LED ใช้งานร่วมกับ LV-NU5IN และ LV-INAD เพื่อตรวจจับและรายงานข้อมูลของเลนส์ใกล้วัตถุ
รองรับกล้องซีรีส์ Digital Sight
เมื่อใช้งานร่วมกับกล้อง Digital Sight สำหรับกล้องจุลทรรศน์ จะสามารถบันทึกภาพความละเอียดสูงได้อย่างมีประสิทธิภาพ พร้อมประมวลผลภาพด้วยซอฟต์แวร์ NIS-Elements เพื่อการวัดและการวิเคราะห์
อุปกรณ์เสริมหลากหลาย
จานหมุนเลนส์แบบแมนนวลรุ่นล่าสุดมีความแม่นยำในการหยุดตำแหน่ง* สูงกว่ารุ่นก่อนถึง 50% นอกจากนี้ยังสามารถเลือกอุปกรณ์เสริม เช่น ฐานกล้องจุลทรรศน์และชุดหลอดไฟ LED ให้เหมาะกับวิธีการสังเกตและวัตถุประสงค์การใช้งาน
ระบบออปติก CFI60-2
Nikon มีเลนส์ใกล้วัตถุหลากหลายรุ่นที่ออกแบบมาให้เหมาะกับการใช้งานของกล้องจุลทรรศน์ พร้อมการแก้ไขความคลาดเคลื่อนของสี (Chromatic Aberration) ช่วยลดความผิดเพี้ยนของสีและให้คุณภาพของภาพที่ยอดเยี่ยม
รองรับการทำงานร่วมกับ Wafer Loader
เมื่อทำงานร่วมกับเครื่องโหลดเวเฟอร์ NWL200 รุ่น LV150N LED สามารถรองรับงานตรวจสอบเวเฟอร์ เช่น การตรวจสอบโครงสร้างระดับไมโครได้
ECLIPSE LV100NDA LED และ LV100ND LED
ECLIPSE LV100NDA LED และ LV100ND LED เป็นกล้องจุลทรรศน์แบบตั้งตรงที่มีความยืดหยุ่นและออกแบบแบบโมดูลาร์ รองรับทั้งเทคนิคคอนทราสต์แบบ Episcopic และ Diascopic สามารถติดตั้งกล้องถ่ายภาพดิจิทัลเป็นอุปกรณ์เสริม และเหมาะสำหรับการตรวจสอบวัสดุในงานอุตสาหกรรมหลากหลายประเภท
ใช้งานสะดวกยิ่งขึ้น และบำรุงรักษาได้ง่ายกว่าเดิม
กล้องจุลทรรศน์รุ่นใหม่ได้รับการพัฒนาเพื่อเสริมความสมบูรณ์ของโซลูชันกล้องจุลทรรศน์อุตสาหกรรม โดยใช้แหล่งกำเนิดแสง LED ที่ให้ค่าความถูกต้องของสีสูง
จุดเด่น
ECLIPSE LV100NDA LED และ LV100ND LED
ระบบออปติก Nikon CFI60-2
การออกแบบอันล้ำสมัยของ Nikon ให้ภาพคมชัดสำหรับเทคนิคการสังเกตหลากหลาย ได้แก่ High Contrast, Brightfield, Darkfield, Polarisation (POL), Differential Interference Contrast (DIC) และ Double Beam Interferometry
กล้อง Nikon Digital Sight
กล้อง Nikon Digital Sight ทุกรุ่นสามารถบันทึกภาพตัวอย่างได้อย่างมีประสิทธิภาพ และส่งข้อมูลเข้าสู่ซอฟต์แวร์ประมวลผลภาพ NIS-Elements พร้อมข้อมูลของกล้องจุลทรรศน์ เช่น เลนส์ใกล้วัตถุที่ใช้งาน กำลังขยาย และความเข้มของแสง
รองรับวิธีการสร้างคอนทราสต์เชิงแสงอย่างครบถ้วน
แสงสะท้อน (Reflected Light): Brightfield, Darkfield, Polarising (POL), Differential Interference Contrast (DIC), Epi-fluorescence และ Two-beam Interferometry
แสงส่องผ่าน (Transmitted Light): Brightfield, Darkfield, Polarising (POL), Differential Interference Contrast (DIC) และ Phase Contrast
อุปกรณ์เสริมแบบโมดูลาร์
ตั้งแต่ชุดหลอดไฟไปจนถึงเลนส์ตา สามารถเลือกส่วนประกอบให้เหมาะกับการใช้งานของผู้ใช้ได้ ซึ่งรวมถึงฐานกล้อง แท่นวางตัวอย่าง เลนส์ใกล้วัตถุ จานหมุนเลนส์ หัวกล้อง เลนส์ตา กล้องดิจิทัล ฟิลเตอร์ และอุปกรณ์เสริมสำหรับเทคนิคคอนทราสต์ต่าง ๆ
การสื่อสารดิจิทัลอัจฉริยะ
LV100NDA LED สามารถตรวจจับและควบคุมข้อมูลของเลนส์ใกล้วัตถุ ตำแหน่ง ความเข้มของแสง รูรับแสง และคอนทราสต์ ผ่านซอฟต์แวร์ของ Nikon
LV100ND LED สามารถตรวจจับและรายงานข้อมูลของเลนส์ใกล้วัตถุผ่าน LV-NU5I และ LV-INAD
การออกแบบตามหลักสรีรศาสตร์
ตำแหน่งของปุ่มควบคุมที่ออกแบบมาอย่างเหมาะสมและกระบอกเลนส์ตาที่ปรับมุมได้ ช่วยลดความเมื่อยล้าระหว่างการใช้งาน พร้อมแสดงภาพในทิศทางที่ถูกต้อง เหมาะสำหรับการตรวจสอบวัสดุ เซมิคอนดักเตอร์ และชิ้นส่วนอุตสาหกรรม
ดาวน์โหลด
ดาวน์โหลดแคตตาล็อกสำหรับเครื่องมือวัดอุตสาหกรรม และเครื่องมือวัดแบบพกพา ได้ที่นี่