โซลูชันด้านมาตรวิทยาความแม่นยำสูงและมาตรวิทยาขั้นสูงของเราครอบคลุมเครื่อง CMM รุ่นล่าสุดที่ติดตั้งเซนเซอร์แบบสัมผัส (Tactile) เซนเซอร์แบบออปติคัล (Optical) และเซนเซอร์เลเซอร์ รวมถึง Micro CMM สำหรับการวัดคุณลักษณะ 2D/3D และการวิเคราะห์โปรไฟล์พื้นผิว โซลูชันด้านมาตรวิทยาสำหรับพื้นผิว รูปทรง และเรขาคณิต การวัดด้านมาตรวิทยาความยาว และเครื่องมือวัดแบบพกพา
Bruker Alicona
Accretech
TPR Osaka Seimitsu Kikai
EKM Jena
Nikon
Äpre Instruments
Starrett
Precitech, part of AMETEK
Prolink, part of Minitab
Linear Measurement Instruments, Corp.
Datamyte
Peacock
เยี่ยมชมห้องโชว์รูม