คุณสมบัติที่ล้ำสมัยและเป็นเอกลักษณ์ พร้อมด้วยความแม่นยำในการกำหนดตำแหน่งในระดับสูงเป็นพิเศษ ทำให้ทั้ง Phoenix Microme|x 160 neo, Phoenix Microme|x 180 neo และ Nanome|x 180 neo เป็นโซลูชันที่มีประสิทธิภาพและเชื่อถือได้สำหรับงานตรวจสอบแบบออฟไลน์ทั้งแบบ 2 มิติและ 3 มิติที่หลากหลาย ไม่ว่าจะเป็นงานวิจัยและพัฒนา (R&D) การวิเคราะห์ความเสียหาย (Failure Analysis) รวมถึงการควบคุมกระบวนการผลิตและการควบคุมคุณภาพ  
ซอฟต์แวร์ตรวจสอบ Phoenix|x-ray X|act รองรับการสร้างโปรแกรมตรวจสอบแบบ µAXI ที่อ้างอิงข้อมูล CAD ได้อย่างง่ายดาย ช่วยให้การตรวจสอบแบบอัตโนมัติในระดับไมโครเมตรเป็นไปอย่างมีประสิทธิภาพ อีกหนึ่งจุดเด่นคือ Waygate Technologies มีตัวเลือกของระบบตรวจจับดิจิทัล DXR-HD ให้เลือกใช้อย่างครบถ้วน จึงสามารถเลือกชุดระบบสร้างภาพ (Image Chain) ที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการใช้งานเฉพาะของคุณได้อย่างลงตัว

การสร้างภาพแบบ Live ด้วย DXR-HD ที่คมชัดเป็นพิเศษ

• ตัวตรวจจับ (Detector) DXR S100 Pro ขนาดใหญ่ ผสานกับความละเอียดของพิกเซลระดับสูง กำหนดมาตรฐานใหม่ของเทคโนโลยีการสร้างภาพระดับแนวหน้าของอุตสาหกรรม ให้ความละเอียดของพิกเซลที่ยอดเยี่ยมระดับ 100 µm พร้อมพื้นที่ตรวจจับขนาดใหญ่ 30 ซม. x 25 ซม. ช่วยเพิ่มประสิทธิภาพการตรวจสอบด้วยความสามารถในการตรวจจับรายละเอียดที่โดดเด่น
• ตัวตรวจจับ DXR S140 แบบ High Dynamic พร้อมเทคโนโลยี Scintillator ที่ได้รับการพัฒนา ช่วยให้การตรวจสอบแบบ LIVE มีความแม่นยำและรวดเร็ว รองรับอัตราเฟรมเต็มที่ 25 เฟรมต่อวินาที ที่ความละเอียด 1536 x 1536 พิกเซล ให้สัญญาณรบกวนต่ำ พร้อมคุณภาพของภาพที่ยอดเยี่ยม เพื่อการตรวจสอบแบบ Live ที่รวดเร็วและละเอียด

กำลังเอาต์พุตสูงพร้อมความละเอียดสูง: Diamond|window
เมื่อเปรียบเทียบกับเป้า (Target) แบบเบริลเลียม (Beryllium) ทั่วไป Diamond|window สามารถรองรับกำลังเอาต์พุตที่สูงกว่าได้ด้วยจุดโฟกัส (Focal Spot) ที่เล็กกว่า จึงให้ภาพที่มีความละเอียดสูง
แม้ในสภาวะที่ใช้กำลังเอาต์พุตสูง

• เพิ่มความเร็วในการเก็บข้อมูล CT ได้สูงสุดถึง 2 เท่า โดยยังคงคุณภาพของภาพในระดับสูงเท่าเดิม
• กำลังเอาต์พุตสูงพร้อมความละเอียดสูง
• ใช้วัสดุเป้าที่ไม่เป็นพิษ (Non-toxic Target)
• เพิ่มความเสถียรของตำแหน่งจุดโฟกัสในระหว่างการวัดระยะยาว
• ยืดอายุการใช้งานของเป้า (Target) ด้วยการลดการเสื่อมสภาพ แม้ใช้งานที่ความหนาแน่นกำลังสูง

ความสามารถในการตรวจจับรายละเอียด ความเร็ว และคุณภาพของภาพระดับแนวหน้า

• ภาพการตรวจสอบแบบ Live ที่คมชัดเป็นพิเศษ ด้วยชุดตัวตรวจจับดิจิทัล DXR ของ Waygate Technologies ที่มีช่วงไดนามิกสูง (High Dynamic Digital Detector Array)
• จอภาพขนาดใหญ่ 27 นิ้ว พร้อมความสามารถในการตรวจจับข้อบกพร่องครอบคลุมสูงและให้ผลการตรวจสอบที่ทำซ้ำได้อย่างสม่ำเสมอ
• สามารถตรวจจับรายละเอียดได้ถึงระดับ 0.5 µm หรือ 0.2 µm เมื่อใช้หัวกำเนิดรังสีแบบ Nanofocus
• แสดงผลการซ้อนทับข้อมูล CAD กับผลการตรวจสอบแบบ Live ได้ แม้ในมุมมองการตรวจสอบแบบเอียง (Oblique View) และชิ้นงานที่หมุนอยู่
• หลอดกำเนิดรังสีแบบ Microfocus หรือ Nanofocus กำลังสูง 180 kV / 20 W รองรับการตรวจสอบชิ้นงานอิเล็กทรอนิกส์ที่มีการดูดกลืนรังสีสูง

การกำหนดตำแหน่งด้วย Navigation Map
มองเห็นภาพรวมได้อย่างชัดเจน พร้อมกำหนดตำแหน่งได้อย่างรวดเร็ว:

• ใช้ภาพจากกล้องออปติคัลหรือภาพรวมจากการเอกซเรย์ของชิ้นงานทั้งหมดเป็นแผนที่นำทาง (Navigation Map)
• ควบคุมและกำหนดตำแหน่งได้อย่างรวดเร็วเพียงคลิกบนแผนที่
• สามารถกำหนดโปรแกรมการตรวจสอบโดยอ้างอิงจากแผนที่นำทางแบบออปติคัล
• สามารถบันทึกตำแหน่งบนแผนที่ลงในรายงานการทดสอบที่สร้างโดย X|act ได้

Smart Dose Management

• Shadow|target ช่วยลดปริมาณรังสีที่ไม่จำเป็น โดยไม่ต้องเริ่มและหยุดเครื่องกำเนิดรังสีบ่อยครั้ง
• การฟื้นตัวของรังสีเอกซเรย์รวดเร็วและมีเสถียรภาพ โดยไม่มีความล่าช้าในการเพิ่มระดับพลังงาน
• แสดงผลปริมาณรังสีที่คาดการณ์แบบเรียลไทม์ผ่าน "Dose Map" ซึ่งซ้อนทับอยู่บน Navigation Map
• คำนวณปริมาณรังสีสะสมสำหรับการตรวจสอบแต่ละครั้ง
• รองรับการวัดปริมาณรังสีหลายตำแหน่ง และผสานรวมเข้ากับโปรแกรมการตรวจสอบได้อย่างสมบูรณ์
• เมื่อเปรียบเทียบกับการตรวจสอบแบบแมนนวล สามารถลดปริมาณรังสีได้สูงสุดถึง 99% ด้วยการผสานเทคโนโลยีควบคุมปริมาณรังสีเข้ากับการตรวจสอบอัตโนมัติ (Automated Inspection Programming)

การสร้างโปรแกรม CAD อย่างมีประสิทธิภาพ
X|act ไม่เพียงช่วยลดเวลาในการตั้งค่าระบบเมื่อเทียบกับระบบ AXI แบบดั้งเดิมที่อ้างอิงมุมมองภาพ (View-based AXI) เท่านั้น แต่เมื่อสร้างโปรแกรมเสร็จแล้ว ยังสามารถนำโปรแกรมการตรวจสอบไปใช้งานกับระบบที่รองรับ X|act ได้ทั้งหมด ผลลัพธ์คือการสร้างโปรแกรมที่รวดเร็วและง่ายดาย เพียงกำหนดกลยุทธ์การตรวจสอบ แล้วปล่อยให้ X|act สร้างโปรแกรมตรวจสอบอัตโนมัติให้ทั้งหมด

• มีกลยุทธ์การตรวจสอบเฉพาะสำหรับ Pad แต่ละประเภท
• สร้างโปรแกรมการตรวจสอบแบบอัตโนมัติได้อย่างสมบูรณ์
• ให้ความแม่นยำและความสามารถในการทำซ้ำผลการตรวจสอบในระดับสูง ด้วยความละเอียดระดับไม่กี่ไมโครเมตร รองรับการหมุน 360° และการตรวจสอบในมุมเอียงได้สูงสุดถึง 70°
• ให้ผลการตรวจสอบที่ทำซ้ำได้อย่างยอดเยี่ยม แม้กับแผงวงจร PCB ขนาดใหญ่
• ระบุตำแหน่ง Pad ได้อย่างง่ายดายด้วยการซ้อนทับข้อมูล CAD แบบเรียลไทม์ ร่วมกับเทคโนโลยีปรับปรุงภาพ FLASH!™

• ภาพการตรวจสอบแบบ Live ที่คมชัดเป็นพิเศษ ด้วยชุดตรวจจับดิจิทัล DXR ของ Waygate Technologies ที่มีช่วงไดนามิกสูง
• หลอดเอกซเรย์ Microfocus หรือ Nanofocus กำลังสูง 180 kV / 20 W ที่เป็นเอกลักษณ์ รองรับการตรวจสอบชิ้นงานอิเล็กทรอนิกส์ที่มีความหนาแน่นสูงได้อย่างมีประสิทธิภาพ
• ลดเวลาในการตั้งค่า ด้วยระบบโปรแกรม CAD อัตโนมัติที่มีประสิทธิภาพสูง
• Xe2 Toolkit (X-ray Image Evaluation Environment) สภาพแวดล้อมการพัฒนาแบบกราฟิกสำหรับการสร้างชุดการวัดและประเมินภาพเอกซเรย์ได้อย่างรวดเร็ว
• ความสามารถในการตรวจจับรายละเอียดที่ดีที่สุด ระดับ 0.5 µm หรือสูงถึง 0.2 µm เมื่อใช้เทคโนโลยี Nanofocus
• เทคโนโลยีประมวลผลภาพดิจิทัลระดับชั้นนำ ช่วยปรับปรุงคุณภาพของภาพได้อย่างรวดเร็วและสม่ำเสมอ
• รองรับการวิเคราะห์ความเสียหาย (Failure Analysis) ขั้นสูง ด้วยระบบ 3D Micro-CT®, Nano-CT® หรือ Planar|CT สำหรับแผงวงจรขนาดใหญ่
• รองรับการสแกน 3D CT ได้ภายในเวลาไม่ถึง 10 วินาที (อุปกรณ์เสริม)

ดาวน์โหลดแคตตาล็อกสำหรับเครื่องมือวัดอุตสาหกรรม และเครื่องมือวัดแบบพกพา ได้ที่นี่