กล้องจุลทรรศน์อินเตอร์เฟอโรมิเตอร์แสงขาวแบบ 3 มิติ
เครื่องมือวัดพื้นผิวและคอนทัวร์แบบไม่สัมผัส
สำหรับการวัดค่าความขรุขระของพื้นผิวในระดับนาโน / ต่ำกว่านาโนเมตร (Sub-nano)
กล้องจุลทรรศน์อินเตอร์เฟอโรมิเตอร์แสงขาวแบบ 3 มิติ
กล้องจุลทรรศน์อินเตอร์เฟอโรมิเตอร์แสงขาวแบบ 3 มิติ Opt-scope ความละเอียดสูง ช่วงการวัดกว้าง และความเร็วสูง
Opt-scope เป็นกล้องจุลทรรศน์อินเตอร์เฟอโรมิเตอร์แสงขาวแบบ 3 มิติ ที่ให้ความละเอียดในแนวแกนตั้งสูงถึง 0.01 นาโนเมตร โดยไม่ขึ้นอยู่กับกำลังขยายของเลนส์ ด้วยความสามารถในการวัดโปรไฟล์พื้นผิวระดับนาโนด้วยเลนส์กำลังขยายต่ำ จึงสามารถวัดพื้นที่ขนาดใหญ่ได้อย่างรวดเร็วภายในการสแกนเพียงครั้งเดียว สามารถวัดค่าความขรุขระของพื้นผิวระดับ Sub-nano วัตถุโปร่งใส และโครงสร้างที่มีอัตราส่วนความสูงต่อความกว้าง (High Aspect Ratio) ซึ่งไม่สามารถวัดได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์เลเซอร์หรือเครื่องมือวัดแบบไม่สัมผัสทั่วไป โดย Opt-scope ให้ผลการวัดที่มีความสามารถในการทำซ้ำ (Repeatability) สูง
Opt-scope รุ่นใหม่ มอบความยืดหยุ่นในการใช้งานที่เหนือกว่าเดิม
Opt-scope NEX ซึ่งเป็นรุ่นที่พัฒนาบนแพลตฟอร์ม NEX สามารถรองรับชิ้นงานได้หลากหลายประเภทอย่างยืดหยุ่น พร้อมเพิ่มตัวเลือกใหม่ในกลุ่มผลิตภัณฑ์ ได้แก่ รุ่น DX แบบติดตั้งพื้นชนิด All-in-one เพื่อการใช้งานที่สะดวกสบาย และรุ่น SD แบบตั้งโต๊ะ
รุ่น DX แบบติดตั้งพื้น All-in-one
รุ่นใหม่รองรับชิ้นงานหลากหลายประเภทด้วยการใช้งานร่วมกับอุปกรณ์เสริมที่หลากหลาย
Accretech ได้ตอบสนองความต้องการที่หลากหลายในการวัดชิ้นงานมาโดยตลอด จากประสบการณ์ที่สั่งสมมา ทำให้สามารถนำเสนอชุดอุปกรณ์จับยึดชิ้นงานและเครื่องมือจัดแนวที่เหมาะสมกับความต้องการของผู้ใช้งานแต่ละรายได้
สามารถวัดชิ้นงานขนาดใหญ่ได้โดยไม่ต้องตัดชิ้นงาน
รุ่นใหม่รองรับการติดตั้งและการวัดชิ้นงานขนาดใหญ่ ซึ่งไม่สามารถทำได้กับรุ่นเดิม
ตัวอย่างเช่น สามารถวัดหินเจียรขนาดเส้นผ่านศูนย์กลาง 300 มม. ในลักษณะตั้งตรงได้ และสามารถวางชิ้นงานทรงกล่อง เช่น ฝาสูบ (Cylinder Head) หรือชิ้นงานทรงยาว เช่น เพลาลูกเบี้ยว (Camshaft) บนแท่นวัดได้โดยไม่จำเป็นต้องตัดชิ้นงาน ช่วยลดเวลาและแรงงานที่ใช้ในการเตรียมชิ้นงาน จึงช่วยเพิ่มประสิทธิภาพและลดภาระงานได้อย่างมาก
* รองรับน้ำหนักชิ้นงานสูงสุด: 96 กก.
รองรับการขยายระบบในระดับสูง เพื่อการทำงานอัตโนมัติและการลดแรงงาน
เป็นระบบแพลตฟอร์มที่รองรับการขยายระบบได้อย่างยืดหยุ่น ช่วยให้สามารถพัฒนาสู่ระบบอัตโนมัติและการลดแรงงานได้ผ่านตัวเลือกต่าง ๆ เช่น ขนาดฐานและเสาที่เลือกได้ ระยะชักขึ้น-ลงสำหรับการวัดชิ้นงานขนาดใหญ่ ระบบเลื่อนเสาในแนวซ้าย-ขวาด้วยมอเตอร์ และแท่น XY แบบขับเคลื่อนด้วยไฟฟ้า
ให้ผลการวัดสอดคล้องกับเครื่องวัดแบบ Stylus
Accretech เป็นผู้นำตลาดด้านเครื่องวัดความขรุขระผิวแบบ Stylus มาอย่างยาวนาน และ Opt-scope ได้รับการออกแบบให้ให้ผลการวัดที่มีความสอดคล้อง (Correlation) กับผลการวัดจากเครื่องวัดแบบ Stylus
รองรับมาตรฐาน ISO 25178-2 และ JIS B 0681-2 สำหรับพารามิเตอร์พื้นผิวแบบ 3 มิติ (3D Surface Texture Parameters)
ในฐานะสมาชิกของ ISO/TC213 มาเป็นเวลานาน Accretech มีส่วนร่วมอย่างต่อเนื่องในการผลักดันและส่งเสริมการวัดลักษณะพื้นผิวแบบ 3 มิติ (3D Surface Texture Measurement)
เพิ่มความเร็วในการสแกนได้ถึง 6 เท่า ด้วยกล้องความเร็วสูง (High-speed Camera) แบบอุปกรณ์เสริม
มีโหมดการทำงานให้เลือก 2 รูปแบบตามความต้องการด้านความแม่นยำ โดยโหมดความเร็วสูงสามารถเพิ่มความเร็วในการวัดได้มากยิ่งขึ้น
ฟังก์ชันการวัดแบบ Focus Variation รองรับการวัดรูปร่างระดับมิลลิเมตรด้วยความเร็วสูง
ฟังก์ชันการวัดแบบ Focus Variation อาศัยหลักการของกล้องจุลทรรศน์แบบ Focus Variation ซึ่งเป็นวิธีการวัดที่กำหนดไว้ในมาตรฐาน ISO 25178-606 (มาตรฐานสากลสำหรับการวัดลักษณะพื้นผิวแบบ 3 มิติ) ทำให้สามารถวัดรูปร่างระดับมิลลิเมตร รวมถึงพื้นผิวที่มีความลาดเอียงสูง ซึ่งเดิมเป็นข้อจำกัดของเทคนิค White Light Interferometry เมื่อเพิ่มฟังก์ชัน Focus Variation เข้ากับเทคโนโลยี White Light Interferometry เดิม ทำให้ Opt-scope สามารถรองรับงานวัดได้หลากหลายยิ่งขึ้น
การวิเคราะห์และการประเมินผล
- การวิเคราะห์ความขรุขระพื้นผิวแบบ 3 มิติ (3D Roughness Analysis)
- การวิเคราะห์ความขรุขระพื้นผิวแบบ 2 มิติของหน้าตัด (2D Roughness Analysis of a Cross-section)
- การวิเคราะห์รูปทรงละเอียด (Fine Form Analysis)
- การวิเคราะห์โปรไฟล์ / โปรไฟล์ขั้นสูง (Contour / Advanced Contour Analysis)
- การวิเคราะห์เม็ดวัสดุ (Grain & Particle Analysis)
ดาวน์โหลด
ดาวน์โหลดแคตตาล็อกสำหรับเครื่องมือวัดอุตสาหกรรม และเครื่องมือวัดแบบพกพา ได้ที่นี่