CT แบบหลอดเอกซเรย์คู่
การตรวจสอบที่ยืดหยุ่น: สลับระหว่างการตรวจสอบเพื่อการทะลุผ่านและการตรวจสอบความละเอียดได้เพียงกดปุ่ม ด้วย microfocus 240kV และ nanofocus 180kV โดยไม่จำเป็นต้องสอบเทียบใหม่

ความยืดหยุ่นของตัวตรวจจับ ^ใหม่
การออกแบบที่กำหนดค่าได้: เลือกตัวตรวจจับให้เหมาะกับงานของคุณ ตั้งแต่การถ่ายภาพที่ให้ปริมาณงานสูง ไปจนถึงการเก็บรายละเอียดที่ละเอียดมากขึ้นสำหรับงานตรวจสอบที่ต้องการความแม่นยำสูง

Metrology|edition ^ใหม่
ขยายขีดความสามารถสู่การวัด: เพิ่มการวัดขนาดด้วย CT ด้วย Metrology|edition รองรับการเปรียบเทียบกับ CAD การวิเคราะห์ความหนาของผนัง และการทำ Reverse Engineering

การตรวจสอบ CT แบบกะทัดรัด
ความสามารถที่มากขึ้น ใช้พื้นที่น้อยลง: รองรับทั้งการถ่ายภาพรังสี 2D และ CT 3D ในพื้นที่ติดตั้งเพียงกว่า 3 ม.² พร้อมพื้นที่สำหรับชิ้นงานที่มีเส้นผ่านศูนย์กลางสูงสุด 400 มม. และน้ำหนักสูงสุด 15 กก.

เทคโนโลยีเฉพาะของผู้ผลิต ^ใหม่
สแกนได้เร็วขึ้น ภาพคมชัดยิ่งขึ้น: เทคโนโลยี High|Flux target ที่เป็นกรรมสิทธิ์เฉพาะและตัวตรวจจับความไวสูงช่วยให้ได้คุณภาพของภาพที่เหนือกว่า พร้อมลดเวลาในการสแกนลงอย่างมีนัยสำคัญ

V|tome|x S Neo ออกแบบมาสำหรับทีมที่ต้องการมากกว่าระบบที่รองรับงานเฉพาะด้าน แต่ไม่ต้องการต้นทุน ความซับซ้อน หรือพื้นที่ติดตั้งของแพลตฟอร์มขนาดใหญ่กว่ามาก ระบบนี้ผสานการตรวจสอบรายละเอียดสูง ความยืดหยุ่นสำหรับการใช้งานที่หลากหลาย และความสะดวกในการใช้งานประจำวันไว้ในรูปแบบที่เหมาะกับสภาพแวดล้อมจริงของห้องปฏิบัติการ

• แรงดันไฟฟ้าสูงสุด: 240kV
• ความสามารถในการตรวจจับรายละเอียด: <0.2 µm
• พื้นที่ติดตั้งขนาดกะทัดรัด: 3.25 ม.²
• เส้นผ่านศูนย์กลางการสแกนสูงสุด: 400 ม.

ดาวน์โหลดแคตตาล็อกสำหรับเครื่องมือวัดอุตสาหกรรม และเครื่องมือวัดแบบพกพา ได้ที่นี่