สัมผัสการถ่ายภาพระดับซับไมครอนอย่างแท้จริง ซึ่งสร้างมาตรฐานใหม่สำหรับระบบ CT ระดับงานวิจัย ด้วยขนาดวอกเซลที่เล็กเพียง 400 นาโนเมตร (มาตรฐาน JIMA) และความสามารถในการตรวจจับรายละเอียดได้ถึง 50 นาโนเมตร ทำให้ Nanotom HR สามารถเผยรายละเอียดที่เล็กที่สุดได้อย่างคมชัด

• ความละเอียดของวอกเซลระดับซับไมครอน → ช่วยให้เห็นโครงสร้างระดับไมโครและรายละเอียดขนาดเล็กที่ระบบ CT แบบทั่วไปไม่สามารถตรวจจับได้
• ประสิทธิภาพของจุดโฟกัสขนาด 300 นาโนเมตร → ลดการสแกนซ้ำ เพิ่มความสม่ำเสมอ และสร้างความมั่นใจในทุกการสแกน
• ระบบขับเคลื่อนบนฐานหินแกรนิต → ให้ความเสถียรปราศจากแรงสั่นสะเทือน เพื่อข้อมูลที่เชื่อถือได้และสามารถทำซ้ำได้ในงานวิทยาศาสตร์

สำหรับนักวิจัย หมายถึงความสามารถในการวิเคราะห์โครงสร้างระดับไมโคร รูพรุน และรายละเอียดขนาดเล็กที่ระบบ CT ทั่วไปไม่สามารถตรวจสอบได้ ส่วนสำหรับผู้ผลิต หมายถึงข้อมูลที่คมชัดและมีเสถียรภาพมากขึ้น ซึ่งช่วยเร่งการค้นพบ ลดระยะเวลาการตรวจสอบ และยกระดับการควบคุมคุณภาพในระดับสูงสุด

Phoenix Nanotom HR ผสานการทำงานของตัวตรวจจับพื้นที่ขนาดใหญ่เข้ากับเรขาคณิตของระบบที่ได้รับการปรับแต่งอย่างแม่นยำ เพื่อขยายพื้นที่การมองเห็น โดยยังคงรักษาความสามารถในการสแกนระดับซับไมครอนไว้ได้อย่างเต็มประสิทธิภาพ

• รองรับการวิเคราะห์คุณลักษณะหลายตำแหน่งพร้อมกันภายในชุดข้อมูลเดียว
• ลดความจำเป็นในการตัดทำลายชิ้นงานหรือการสแกนซ้ำหลายครั้ง
• เพิ่มความสม่ำเสมอของข้อมูล ด้วยการรักษาความละเอียดให้คงที่ตลอดพื้นที่การสแกนที่กว้างขึ้น

ด้วยการขยายพื้นที่ที่สามารถสแกนได้ในครั้งเดียว Nanotom HR ช่วยให้ผู้ใช้งานสามารถเก็บข้อมูลจากบริเวณที่สนใจขนาดใหญ่ขึ้นได้ โดยไม่ลดทอนความละเอียดของภาพ ส่งผลให้มองเห็นโครงสร้างที่ซับซ้อนได้อย่างครบถ้วนมากยิ่งขึ้น

ออกแบบมาเพื่อลดความซับซ้อนในการใช้งาน เพื่อให้คุณมุ่งเน้นกับผลลัพธ์ได้อย่างเต็มที่ ไม่ใช่เสียเวลากับการตั้งค่าระบบ

• อินเทอร์เฟซซอฟต์แวร์ที่ใช้งานง่าย ช่วยให้การควบคุมระบบเป็นเรื่องสะดวก
• ระบบปรับตำแหน่งจุดโฟกัส (Focal Spot) อัตโนมัติ
• ประตูเปิดด้านหน้า พร้อมระบบควบคุมแบบ CNC

Nanotom HR ไม่ได้ใช้งานง่ายเพียงแค่ในส่วนของซอฟต์แวร์ แต่ยังช่วยให้การฝึกอบรมรวดเร็ว เวิร์กโฟลว์เป็นธรรมชาติ และทีมงานสามารถเรียนรู้การใช้งานได้อย่างรวดเร็ว แม้ในสภาพแวดล้อมการทำงานที่มีการเปลี่ยนแปลงอยู่เสมอ

สัมผัสการสแกนความละเอียดสูงพิเศษด้วยความเร็วที่เหนือกว่า เมื่อเทียบกับเทคโนโลยีการขยายภาพแบบออปติคัล

• 120 นาที → 40 นาที ที่ขนาดวอกเซล 0.5 µm
• 60 นาที → 10 นาที ที่ขนาดวอกเซล 1.0 µm

เมื่อผสานความเร็วเข้ากับความแม่นยำ คุณจะได้รับผลลัพธ์ที่รวดเร็วขึ้น ลดระยะเวลาการวิจัยและพัฒนา (R&D) และเร่งกระบวนการตรวจสอบคุณภาพในการผลิต การสแกนที่รวดเร็วยิ่งขึ้นหมายถึงข้อมูลเชิงลึกที่ได้เร็วขึ้น และมีเวลามากขึ้นสำหรับการสร้างสรรค์นวัตกรรม

• CT และ SEM (แบตเตอรี่)
• Advanced Packaging (อุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์)
• Plastic Foam (วัสดุศาสตร์)
• Poppy Seed (วิทยาศาสตร์ชีวภาพ)
• Capacitors และ MLCCs (อุตสาหกรรมอิเล็กทรอนิกส์)
• Sandstone (ธรณีวิทยา)
• แผงวงจรและชุดประกอบอิเล็กทรอนิกส์ (Boards & Assemblies)

• ประเภทหลอดกำเนิดรังสีเอกซ์ (X-ray Tube Type)
  หลอดกำเนิดรังสีเอกซ์แบบ Nanofocus ความละเอียดสูงพิเศษ รองรับการทำงานต่อเนื่องตลอด 24 ชั่วโมงทุกวัน พร้อมความเสถียรสูง
   
• แรงดันไฟฟ้าสูงสุด / กำลังไฟสูงสุด
  160 kV / 17 W
   
• กำลังขยายเชิงเรขาคณิต (3D)
  1.4x – 300x
   
• ความสามารถในการตรวจจับรายละเอียด (Detail Detectability)
  สูงสุดถึง 50 นาโนเมตร (0.05 µm)
   
• ความละเอียด 3 มิติ* (3D Resolution*)
  <1 µm (แสดงรายละเอียดได้ครบถ้วนและชัดเจน)
   
• ความละเอียดเชิงพื้นที่ (Spatial Resolution)
  <400 นาโนเมตร (มาตรฐาน JIMA)
   
• เส้นผ่านศูนย์กลางชิ้นงานสูงสุด
  <1 มม. ถึง 240 มม.
   
• เส้นผ่านศูนย์กลางชิ้นงานสูงสุด
  <1 มม. ถึง 240 มม.
   
• ความสูงสูงสุด / น้ำหนักสูงสุดของชิ้นงาน
  250 มม. / 3 กก.
   
• ขนาดตัวเครื่อง
  1,980 มม. × 1,600 มม. × 925 มม.
   
• น้ำหนักตัวเครื่อง
  ประมาณ 1,900 กก.

*การทดสอบความละเอียด microCT ของ QRM: 500 line pairs ต่อมิลลิเมตร

ดาวน์โหลดแคตตาล็อกสำหรับเครื่องมือวัดอุตสาหกรรม และเครื่องมือวัดแบบพกพา ได้ที่นี่