Waygate Technologies（旧 GE インスペクション・テクノロジーズ、GEIT）は、産業用検査ソリューションのグローバルリーダーです。

Waygate Technologies は、世界中の主要産業に対して、安全性、品質、生産性の確保を提供しています。

非破壊検査（NDT）における125年以上の豊かな伝統と卓越した技術を背景に、Waygate Technologies は最先端のデータ分析とデジタルソリューションを活用し、製品およびプロセスに対する高度なインサイトを提供しています。お客様の生産性向上、競争力強化、そして「車が確実に始動し、飛行機が安全に飛び、スマートフォンがスムーズに起動する」という安心を実現します。

同社は長年にわたり数多くの革新的技術を世に送り出し、2016年には Frost & Sullivan より「産業用コンピューター断層撮影（CT）年間最優秀企業賞」を受賞しました。近年では、独自の高速らせんCT「Speed|scan」システム、高スループットブレード検査スキャナー「Phoenix V|tome|x C HS」、散乱補正技術を搭載した世界初のマイクロCTシステム、高精度計測用「Phoenix V|tome|x M」スキャナーなどの革新により、産業用CT市場でのリーダーシップをさらに強化しています。

Waygate Technologies のシステムは、マイクロエレクトロニクス、材料科学、プラスチック射出成形、航空宇宙、自動車業界における故障解析、検査、計測用途など、世界中の多岐にわたる分野で活用されています。

製品ラインナップには以下が含まれます：

• nanotom m - 広範なサンプル領域に対応する科学・工業用コンピューター断層撮影・三次元測定用高解像度 nanoCT ® システム
• v|tome|x s - 2D X 線検査および 3D CT (マイクロ CT およびナノ CT) 用、ならびに 3D 計測用高解像度システム
• v|tome|x m - 最大 300kV/500W の 3D 計測・解析用多目的 X線マイクロフォーカス CT システム。計測バージョンでも購入可能です。scatter|correct コーンビーム CT オプションも搭載可能です。
• v|tome|x c - 非破壊検査用および鋳物・宇宙航空用アプリケーションの品質検証に使用するコンパクト高性能ミニフォーカス 450kV CT システム。ファンビーム、コーンビーム、およびscatter|correct コーンビーム CT オプションも搭載可能です。
• v|tome|x L - カスタマイズ可能大型高解像度 2D および 3D CT システム
• microme|x / nanome|x – CT オプション付き 180kV/20W のマイクロフォーカス/180k/15W のナノフォーカス 2D システム
• speed|scan CT 64 – 生産ラインで使用する自動高速 XCT